Xilin A.R., Trukhin A.N. Point defects and elemental excitation in crystalline
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Beschreibung (Anbieter)
Xilin A.R., Trukhin A.N. Point defects and elemental excitation in crystalline and vitreous SiO2. In Russian /Silin A.R., Trukhin A.N. Tochechnye defekty i elementarnye vozbuzhdeniya v kristallicheskom i stekloobraznom SiO2. Schemes, Tables. Riga Zinatne 1985. 245s. Please contact us for details on condition of available copies of the book. SKUalb988f8733c1e42711.
Ausschreibungsinformation
| Ausschreibungsart | Freie Ausschreibung |
| Ausschreibung Nr. | 230987113 |
| Startzeit | Mo 18 Aug 2025 13:56:41 (CEST) |
| Endzeit | Läuft-bis-verkauft |
| Startgebot | Festpreis (Bieten nicht möglich) |
| Artikelzustand | Gebraucht |
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| Ort | Deutschland |
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