Svitasheva S.N. Method of ellipsometry for the study of nanoscale films of diel
- Zustand : Gebraucht
- Versand : Am selben Tag
- Marke : Keine
- ID# : 229507677
- Menge : 1 Artikel
- Besucherzahl : 15
- Ort : USA
- Verkäufer : FoliBiblio (0)
- Barcode : Keine
- Beginn : So 11 Mai 2025 08:19:25 (CEST)
- Ende : Läuft-bis-verkauft
- Verbleibend : Läuft-bis-verkauft
von 1 Artikel(n) Weiteres von diesem Verkäufer Alle anzeigen
Beschreibung (Anbieter)
Svitasheva S.N. Method of ellipsometry for the study of nanoscale films of dielectrics, semiconductors and metals In Russian /Svitasheva S.N. Metod ellipsometrii dlya issledovaniya nanorazmernykh plenok dielektrikov, poluprovodnikov i metallov Novosibirsk Publishing House of Siberian Branch of Russian Academy of Sciences 2009. 268s.We have thousands of titles and often several copies of each title may be available. Please feel free to contact us for a detailed description of the copies available.SKUalb1e227d84d36400f4.
Ausschreibungsinformation
| Ausschreibungsart | Galerie-Ausschreibung |
| Ausschreibung Nr. | 229507677 |
| Startzeit | So 11 Mai 2025 08:19:25 (CEST) |
| Endzeit | Läuft-bis-verkauft |
| Startgebot | Festpreis (Bieten nicht möglich) |
| Artikelzustand | Gebraucht |
| Gebote | 0 |
| Besucherzahl | 15 |
| Versandzeit | Am selben Tag |
| Menge | 1 |
| Ort | USA |
| Automatisch verlängern | Nein |
Neueste Verkäuferbewertungen
Rückgabebestimmungen
Rücksendung akzeptiert
