Lyachnev V.V., Siraya T.N., Dovbeta L.I. Fundamental foundations of metrology
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- ID# : 230661662
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Beschreibung (Anbieter)
Lyachnev V.V., Siraya T.N., Dovbeta L.I. Fundamental foundations of metrology. In Russian /Lyachnev V.V., Siraya T.N., Dovbeta L.I. Fundamentalnye osnovy metrologii. In Russian. St. Petersburg. Elmore. 2007. 424 p. We have thousands of titles and often several copies of each title may be available. Please feel free to contact us for a detailed description of the copies available. SKUalb8f4e324fdfe30528
Ausschreibungsinformation
| Ausschreibungsart | Galerie-Ausschreibung |
| Ausschreibung Nr. | 230661662 |
| Startzeit | Mi 16 Jul 2025 16:34:10 (CEST) |
| Endzeit | Läuft-bis-verkauft |
| Startgebot | Festpreis (Bieten nicht möglich) |
| Artikelzustand | Gebraucht |
| Gebote | 0 |
| Besucherzahl | 17 |
| Versandzeit | Am selben Tag |
| Menge | 1 |
| Ort | USA |
| Automatisch verlängern | Nein |
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