Test and Diagnosis of Analogue, Mixed-Signal and RF Integrated Circuits
- Zustand : Gebraucht
- Versand : 2 Tage
- Marke : Inst Of Engineering Technology
- ID# : 225579257
- Barcode : 9780863417450
- Beginn : Di 31 Dez 2024 04:44:59 (CEST)
- Ende : Läuft-bis-verkauft
- Verbleibend : Läuft-bis-verkauft
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Beschreibung (Anbieter)
Test and Diagnosis of Analogue, Mixed-Signal and RF Integrated Circuits by Yichuang Sun. Published by Inst Of Engineering Technology in 2008. Paperback. ISBN:9780863417450
Ausschreibungsinformation
| Ausschreibungsart | Galerie-Ausschreibung |
| Ausschreibung Nr. | 225579257 |
| Startzeit | Di 31 Dez 2024 04:44:59 (CEST) |
| Endzeit | Läuft-bis-verkauft |
| Startgebot | Festpreis (Bieten nicht möglich) |
| Artikelzustand | Gebraucht |
| Gebote | 0 |
| Besucherzahl | 6 |
| Versandzeit | 2 Tage |
| Menge | 1 |
| Ort | Belgien |
| Automatisch verlängern | Nein |
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