Test and Diagnosis of Analogue, Mixed-Signal and RF Integrated Circuits
- Skick : Begagnad
- Frakt : 2 dagar
- Märke : Inst Of Engineering Technology
- ID# : 225579257
- Streckkod : 9780863417450
- Start : Tis 31 dec 2024 04:44:59 (CEST)
- Stängning : Pågår till såld
- Tid kvar : Pågår tills såld
BACS/EFT Banköverföring
Internationell Frakt till Sverige 
för 1 föremål ändra
för 1 föremål ändra
Övrig Intl Frakt = 18,00€ (197,02 kr)
till Europa, Nordamerika, Oceanien, Österrike, Australien, Brasilien, Kanada, Tyskland, Danmark, Spanien, Frankrike, Hong Kong, Irland, Italien, Nederländerna, Norge, Nya Zeeland, Portugal, Sverige, Singapor, Storbritannien, USA
Frakt Räknare
Mer annonser från denna säljare se alla
Säljarens Beskrivning
Test and Diagnosis of Analogue, Mixed-Signal and RF Integrated Circuits by Yichuang Sun. Published by Inst Of Engineering Technology in 2008. Paperback. ISBN:9780863417450
Annonsinformation
| Annonstyp | Galleriannons |
| Annons-ID#: | 225579257 |
| Starttid | Tis 31 dec 2024 04:44:59 (CEST) |
| Sluttid | Pågår till såld |
| Startbud | Fast pris (ingen budgivning) |
| Produktvillkor | Begagnad |
| Bud | 0 |
| Visningar | 8 |
| Avsändningstid (inkluderar inte söndagar) | 2 dagar |
| Antal | 1 |
| Plats | Belgien |
| Auto-förläng | Nej |
Säljarens senaste Feedback
Retur Policy
Returer accepteras inte
